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Circuito Abierto en Bobina EEV — Prueba de Resistencia 40–80Ω

Causas probables

Circuito abierto interno en bobinado — vibración, sobrecorriente o deterioro

Comprobar: Medir resistencia de bobina con multímetro (conector desconectado): A1-A2 y B1-B2 cada uno 40–80Ω; OL confirma circuito abierto

Qué hacer: Si el modelo permite reemplazo de bobina por separado → reemplazar solo la bobina; de lo contrario → reemplazar EEV completo → ejecutar Reset/Initialize en controlador

Corrosión de pines de conector o aumento de resistencia de contacto

Comprobar: Si resistencia de bobina es normal (40–80Ω) → prueba de tracción de pines + resistencia de contacto inferior a 2Ω

Qué hacer: Limpiar contactos con limpiador de pines, remedir resistencia de contacto → si no mejora, reemplazar conector

Falla en etapa de salida de la placa controladora EEV

Comprobar: Resistencia de bobina normal + conector normal → verificar salida de señal de control 5V en placa controladora EEV con osciloscopio

Qué hacer: Verificar tensión de alimentación y línea de comunicaciones del controlador antes de reemplazar placa → inicializar EEV tras reemplazo

Consejo de campo

Siempre medir la resistencia de bobina con el conector desconectado — medir con la placa conectada genera lecturas erróneas

Los 565 casos funcionan sin conexión en R-Pro, junto con códigos de error de 62 marcas y datos P-T de 108 refrigerantes.

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